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　　涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂（鍍）層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以準(zhǔn)確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂（鍍）層厚度。采用磁性測(cè)厚法，可以方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

　　涂層測(cè)厚儀校準(zhǔn)：
　　1.校零
　　1.1將探頭壓在基準(zhǔn)塊上（或不帶涂層的測(cè)量物體上），再按一下校零鍵“ZERO”進(jìn)行校零。在按“ZERO”鍵時(shí)，測(cè)量探頭在基準(zhǔn)塊上不要晃動(dòng)，且只有在按完“ZERO”鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。
　　1.2將測(cè)量探頭提起到1厘米以上，然后再將探頭以正常的速度壓在基準(zhǔn)塊上（或不帶涂層的測(cè)量體上），若在同一點(diǎn)的測(cè)量值在“0”附近，說(shuō)明校零成功，否則，應(yīng)重新校零。
　　2.校準(zhǔn)校準(zhǔn)校準(zhǔn)校準(zhǔn)
　　2.1根據(jù)要測(cè)量的涂層厚度，選擇適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)膜片，進(jìn)行校準(zhǔn)。
　　2.2先將標(biāo)準(zhǔn)膜片放在基準(zhǔn)塊上（或不帶涂層的測(cè)量體上），再將測(cè)量探頭壓在標(biāo)準(zhǔn)膜片上，若顯示屏上測(cè)量值與標(biāo)準(zhǔn)膜片不同，測(cè)量值可通過(guò)“+”或“-”鍵來(lái)修正（通過(guò)“+”“-”鍵進(jìn)行修正時(shí)，請(qǐng)?zhí)崞鹛筋^）。
　　2.3為保證校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性，可通過(guò)多次測(cè)量同一標(biāo)準(zhǔn)膜片來(lái)驗(yàn)證。
　　涂層測(cè)厚儀測(cè)試結(jié)果受到影響的因素：
　　基體金屬磁化：磁性法測(cè)量受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。
　　基體金屬厚度：每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。
　　邊緣效應(yīng)：本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
　　曲率：試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。
　　表面粗糙度：基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。