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　　超聲波涂層測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過準(zhǔn)確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。主要有主機(jī)和探頭兩部分組成。主機(jī)電路包括發(fā)射電路、接收電路、計(jì)數(shù)顯示電路三部分，由發(fā)射電路產(chǎn)生的高壓沖擊波激勵(lì)探頭，產(chǎn)生超聲發(fā)射脈沖波，脈沖波經(jīng)介質(zhì)介面反射后被接收電路接收，通過單片機(jī)計(jì)數(shù)處理后，經(jīng)液晶顯示器顯示厚度數(shù)值，它主要根據(jù)聲波在試樣中的傳播速度乘以通過試樣的時(shí)間的一半而得到試樣的厚度。

　　雖然幾種測(cè)厚儀在校準(zhǔn)中測(cè)量點(diǎn)和標(biāo)準(zhǔn)材料的選擇上有很多不同，但在操作中都有一些相同的需要注意的地方，如每種測(cè)厚儀對(duì)基體的表面曲率和厚度都有一個(gè)下限的規(guī)定，在實(shí)際校準(zhǔn)中應(yīng)選擇尺寸合理的基體進(jìn)行操作；測(cè)量中測(cè)頭的取向和壓力也會(huì)對(duì)結(jié)果有影響，要保持測(cè)頭與基體的垂直、壓力恒定并盡可能小；另外，校準(zhǔn)覆層測(cè)厚儀時(shí)還要注意外界磁場(chǎng)和基體剩磁的干擾，校準(zhǔn)超聲波測(cè)厚儀時(shí)要注意溫度變化和耦合劑粘度的影響。

　　超聲波涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度受到影響的原因：

　　(1)覆蓋層厚度大于25μm時(shí)，其誤差與覆蓋層厚度近似成正比；

　　(2)基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)；

　　(3)任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,，只有大于這個(gè)厚度，測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響；

　　(4)渦流測(cè)厚儀對(duì)試樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng),，即對(duì)靠近試樣樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的；

　　(5)試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大；基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度，粗糙度增大，影響增大。