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涂鍍層測(cè)厚儀的原理及應(yīng)用  

涂層測(cè)厚儀又稱為覆層測(cè)厚儀，其原理如下： 磁性測(cè)厚原理:當(dāng)測(cè)頭與覆層接觸時(shí)，霍爾發(fā)現(xiàn)這個(gè)電位差UH與電流強(qiáng)度IH成正比，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化,與磁感應(yīng)強(qiáng)度B成正比，當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，與薄片的厚度d成反比。通過測(cè)量其變化可計(jì)算覆蓋層的厚度。 渦流測(cè)厚原理：利用高頻交電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，磁性測(cè)厚法是用來(lái)無(wú)損的測(cè)磁性金屬上的非磁性覆蓋層的厚度,現(xiàn)在有一款新型的涂層測(cè)厚儀，即涂層測(cè)厚儀，它采用的是*新的磁感技術(shù)。也就是我們知道的霍爾效應(yīng),霍爾于1879年發(fā)現(xiàn)的。渦流法可無(wú)損的測(cè)量費(fèi)磁性金屬基體上的非導(dǎo)電層的厚度。通過研究霍爾電壓與工作電流的關(guān)系，測(cè)量電磁鐵磁嘗磁導(dǎo)率、研究霍爾電壓與磁場(chǎng)的關(guān)系,涂層測(cè)厚儀又叫覆層測(cè)厚儀，測(cè)膜儀，涂鍍層儀它是采用磁性測(cè)厚法和渦流法測(cè)厚原理。

涂層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類型方法：

1.磁性測(cè)厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量.導(dǎo)磁材料一般為:鋼\\鐵\\銀\\鎳.此種方法測(cè)量精度高 

例：EPK MiniTest 2500/4500 涂層測(cè)厚儀

2.渦流測(cè)厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。

例：EPK MiniTest 7400 涂層測(cè)厚儀

3.超聲波測(cè)厚法:目前國(guó)內(nèi)還沒有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的，國(guó)外個(gè)別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴，超聲涂層測(cè)厚儀專用于測(cè)量非金屬基體上的涂層。

例：EPK QuintSonic 7 超聲波涂層測(cè)厚儀

4.電解測(cè)厚法:此方法有別于以上三種，不屬于無(wú)損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層。一般精度也不高，測(cè)量起來(lái)較其他幾種麻煩  

例：EPK GalvanoTest 2000/3000 庫(kù)侖測(cè)厚儀

5.放射測(cè)厚儀:此種儀器價(jià)格非常昂貴（一般在10萬(wàn)RMB以上）,適用于一些特殊場(chǎng)合。